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赛黙飞世尔量色散X荧光光谱仪(原美国热电)(ED XRF)

赛黙飞世尔量色散X荧光光谱仪(原美国热电)(ED XRF)

产品时间:2022-06-09

简要描述:

赛黙飞世尔量色散X荧光光谱仪(原美国热电)(ED XRF) 窗超高通量RH靶,76um铍窗,空气冷却的大面积高厚度硅锂Si(Li)检测器,全数字化谱分析器 32bit 4096通道,高稳定性:RSD<0.3% 8小时,检测元素:F~U

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赛黙飞世尔量色散X荧光光谱仪(原美国热电)(ED XRF)仪器介绍      

 

*端窗超高通量RH靶,76um铍窗,空气冷却
*的大面积高厚度硅锂Si(Li)检测器
*赛黙飞世尔量色散X荧光光谱仪(原美国热电)(ED XRF)拥有全数字化谱分析器 32bit 4096通道
*高稳定性:RSD<0.3% 8小时 
*检测元素:F~U

 

技术参数

 

 

样品室:样品类型 固体、粉末、液体、滤渣、镀层和其它 
尺寸 30.5cm(w)x38.9cm(D)x6.6cm(H) 
增高室(选购件): 21.5cm或37.1cm 
单位盘 样品可大至样品室大小 
10位盘(选购件) 带自转机构,样品可大至47mm 
20位盘(选购件) 样品可大至31mm 
自动和手动盘 为特种样品的样品盘,选购件 
环境 空气、真空(选购件)和充氦(选购件) 

激发(核心元件):
X-光管:超高通量,端窗,RH靶,76um铍窗,空气冷却,其它靶可选 
X-光发生器 4-50KV,1KV间隔。O.02-2.OmA,0.02mA 间隔 
滤光片 7种滤光片加1空位,自动选择 
准直器(选购件) 1.0、2.0、3.5、6.8和8.8 五种 

X射线检测配置器(核心元件) 
类型:Si(Li)硅锂
晶体面积: 
Si(Li)面积15mm²,分辨率<155 eV 
Si(Li)LN Si(Li)面积30mm²,分辨率<149 eV 
晶体厚度: 3.5mm
检测元素:F~U

制冷方式:电致冷/液氮致冷 
稳定性:RSD<0.3% 8小时
灵敏度:Fe, Pb <3pmm(油)
再现性:RSD<0.3%/1x10负6次方计数

谱处理器(核心元件)
处理器类型:全数字话 32bit 3 DSP
谱通道:2048 20eV/通道
修正时间:1~40ms, 用户选择
计数率:>100,000cps (live)
能量范围:400~4096eV
死时间影响:<3.0%
重叠校正:<0.3%
能量校正:软件自动

尺寸和重量 
外形尺寸 宽71.88cm,高41.15cm,深59.18cm 
重量 90.7kg 

使用要求 
电源 100、115或230VAC,50或60hz,功率1000W,真空泵需2000W 
遥控诊断和遥控监测需要通过因特网连线 

环境要求 
温度 O~32℃ 
湿度 20~80%RH(无冷凝水) 

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