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梅特勒XP超越系列分析天平

梅特勒XP超越系列分析天平

产品时间:2022-06-09

简要描述:

梅特勒XP超越系列分析天平是分析天平领域中的又一里程碑。颠覆性的创新设计带来了*的称量性能并为操作者、样品称量和数据管理的安全性设立了新的标准。

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梅特勒XP超越系列分析天平产品介绍

★梅特勒-托利多的超越系列型分析天平是分析天平领域中的又一里程碑。颠覆性的创新设计带来了*的称量性能并为操作者、样品称量和数据管理的安全性设立了新的标准。

★红外感应器(SmartSense),实现无需用手接触的称量操作:开关门、打印、去皮等

★彩色智能触摸屏(SmartScreen),实现安全,便捷的天平操作

★网格秤盘(SmartGrid),获得快速、准确称量结果

★水平控制系统(LevelCControl), 在天平偏移水平位置时提供警告提示功能

★易巧称量组件(ErgoClip),满足使用不同容器的称量需求

★用户管理工具(UserManagement),可以立设置操作者的使用权限

★MinWeighzui小称量值功能,提供符合规范的称量帮助(需要梅特勒-托利多客户服务工程师现场设置激活)

★天平校验功能(BalanceCheck),自动提示用户使用外置砝码校验天平,确保称量结果始终准确

★ProFACT专业级全自动校准技术,温度漂移和时间设置触发的内置砝码自动校准和全自动线性校准,获得称量结果

★*可拆卸、清洗的防风罩设计,实现快速清洁

★高度可调节的内置防风罩,确保称量结果

★可移动、分离的显示控制终端,方便天平使用

★标配RS232通讯接口和一个可用于蓝牙、以太网、USB、LocalCan、RS232和PS/2通讯接口选件插槽,方便连接打印机、电脑等外围设备

★显示屏塑料保护罩,避免散落样品的腐蚀

★6种内置应用称量程序:简单称量、计件称量、百分比称量、密度测定、统计功能、公事称量

梅特勒XP超越系列分析天平技术指标

 

型号

XP105DR

XP204

XP205

XP205DR

XP504

zui大称量值

120g

220g

220g

220g

520g

精细量程的zui大称量值

31g

……

……

81g

……

可读性

0.1mg

0.1mg

0.01mg

0.1mg

0.1mg

精细量程的可读性

0.01mg

 

 

0.01mg

 

重复性:正常加载(sd)

0.06mg(100g)

0.07mg(200g)

0.03mg(200g)

0.06mg(200g)

0.12mg(500g)

重复性:微量加载

0.05mg(10g)

0.05mg(10g)

0.015mg(10g)

0.05mg(10g)

0.01mg(10g)

重复性:精细量程微量加载

0.015mg(10g)

……

……

0.015mg(10g)

……

线性

0.15mg

0.2mg

0.1mg

0.15mg

0.4mg

四角误差

0.2mg(50g)

0.25mg(100g)

0.2mg(100g)

0.25mg(100g)

0.4mg(200g)

灵敏度漂移

4x10-6

3x10-6

2x10-6

2.5x10-6

3x10-6

灵敏度温度漂移(10-30°C)

1x10-6/°C

接口更新速率

23/s

天平外型尺寸

(W×D×H mm)263×486.5×322

秤盘尺寸(W×D mm)

76×73

 

 

 

 

 

 


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