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梅特勒XS 分析天平

梅特勒XS 分析天平

产品时间:2022-06-09

简要描述:

梅特勒XS 分析天平致力于获得高生产率。 XS 天平的诸多优势关注于一个目标:使您更加简单、安全地工作,从而实现更高的效率。

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让高生产率的称量工作变得简单:

梅特勒XS 分析天平致力于获得高生产率。 XS 天平的诸多优势关注于一个目标:使您更加简单、安全地工作,从而实现更高的效率。

梅特勒XS 分析天平性能特点:

●采用分离的称量单元和显示控制单元,避免电子元件散热对称量结果准确性的影响
●优化天平适应性的称量参数设置,满足不同称量环境要求
●*可拆卸、清洗的内部和外部玻璃防风罩设计,实现天平的快速清洁
●丰富的内置称量应用程序:基础称量、统计功能、配方称量、计件称量、百分比称量、密度测量、动态称量
●GWPExcellenceTM一体化安全功能,确保天平始终正确工作

触摸屏(TouchScreen:背亮式触摸屏是天平操作更加快速简便。中文界面和图符显示的用户操作指南清晰易懂,帮助您有效节省操作时间。

网格秤盘(SmartGird:有效降低称量室中气流对称量的影响,从而缩短稳定时间。称量过程中如果出现差错,样品会直接散落在网格秤盘(SmartGird)下的金属底盘上,因而不会影响称量结果,且不浪费您的样品。

 

技术参数:

型号zui大称量值
[g]
可读性
[mg]
重复性(sd)
[mg]
线性误差
[mg]
典型稳定时间
[s]
秤盘尺寸
(W×D)[mm]
XS105DU41/1200.01/0.10.02/0.10.24/1.578×73
XS205DU81/2200.01/0.10.02/0.10.24/1.578×73
XS64610.10.10.21.578×73
XS1041200.10.10.21.578×73
XS2042200.10.10.21.578×73
XS204DR81/2200.1/10.1/0.70.53.5/1.578×73

DR=变量程;DU=双量程;sd=标准偏差

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