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梅特勒天平的校准方法
更新时间:2019-07-18   点击次数:12773次

梅特勒天平作为实验室常用基础仪器,其作用主要是称量物体质量,想要实验结果更加准确可靠,实验中样品的量必须准确。为了保证实验结果的准确性,必须保证梅特勒电子天平测量的准确度,在使用前或测量环境改变后都要进行校准操作。下面,我们就来看看梅特勒电子天平如何校准。

   梅特勒电子天平有内校和外校两种校准方式。

 1.  内校:内校型梅特勒天平使用方便,但价格稍高。校准时只需长按CAL键就可以完成校准过程。内校型电子天平如梅特勒型分析天平(AB-S/FACT系列),如图1.

梅特勒XS天平.jpg        特勒型分析天平(AB-S/FACT系列)
 2. 外校:外校型梅特勒天平对砝码要求较高,砝码有灰尘、磨损时都会对校准结果产生影响。校准时先按CAL键,直到显示屏上显示CAL-,再把标准砝码放入天平秤盘上,完成校准过程。例如,显示屏出现CAL-100时,把 100g标准砝码放入称盘,随后显示屏出现“----”等待状态,当显示屏出现100.000g时,取走标准砝码,此时显示屏应显示0.000g,若读数 不为零,则清零后再次进行校准操作以完成校准过程。外校型梅特勒天平如梅特勒XP超越系列分析天平,如图2.


    30026427.png      梅特勒XP超越系列分析天平
    需要注意的是,梅特勒电子天平的准确度和内校、外校没有直接的关系,还应综合考虑其它技术指标来选购合适的梅特勒电子天平。

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