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利用梅特勒XP超越系列分析天平检测颗粒粒度
更新时间:2016-03-14   点击次数:2340次

颗粒粒度指颗粒的大小。通常球体颗粒的粒度用直径表示,立方体颗粒的粒度用边长表示。对不规则的矿物颗粒,可将与矿物颗粒有相同行为的某一球体直径作为该颗粒的等效直径。有时候,在描述粉尘颗粒大小的时候也会用到。

 

利用梅特勒XP精密天平检测颗粒粒度需要配备筛分易巧称量组件。梅特勒筛分易巧称量组件,是将样品筛固定在天平称量台上,以方便颗粒物称量的辅件。用户使用组件将样品筛固定在天平称量台后,只需轻点触摸屏上的One Click? ,即可启用一键称量筛分分析解决方案,根据屏幕提示步骤,样品筛可逐步称量。

 

梅特勒电子天平用于颗粒粒度检测步骤如下:

    1、一键启动任务,固定样品筛正确位置并自动称量所有空筛。

    2、筛分,筛分震动器对样品筛进行筛分并完成样品称量。

    3、回称,系统提示下一步筛分并显示每个样品筛的质量。

    4、结果,显示颗粒粒度分布百分比。

    5、记录存档,存储数据,可随时打印符合GLP结果报告。

  

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